游離二氧化矽之含量可用下列何種儀器分析？

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首頁 / 背題庫 / 22100職業衛生管理(甲級)_專業課程(400題)

游離二氧化矽之含量可用下列何種儀器分析？

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151 / 400

A 原子吸收光譜儀
B 離子層析儀
C 氣相層析儀
D X光繞射分析儀

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留言與意見 ( 3 )

葉一麟

2026/02/24

講解說明

游離二氧化矽（Crystalline Silica，如石英、方矽石）的分析重點在於其結晶結構。
葉一麟

2026/02/24

講解說明

補充資訊除了 XRD 之外，實務上（如作業環境測定）也常使用紅外線光譜儀 (FT-IR) 來分析游離二氧化矽，主要是利用其矽氧鍵（Si-O）在特定波數的吸收峰來進行定量。
葉一麟

2026/02/24

講解說明

X光繞射分析儀 (XRD): 這是分析結晶物質最常用的方法。透過 X 光照射樣品產生的繞射圖譜，可以精確鑑定出二氧化矽的特定結晶相（如石英 Quartz），並進行定量分析。離子層析儀 (IC): 主要用於分析水溶液中的陰陽離子（如Cl2-、SO2-4）。氣相層析儀 (GC): 用於分析易揮發的有機化合物。原子吸收光譜儀 (AA): 用於偵測樣品中的「金屬元素」含量，無法區分物質的結晶狀態。